七月的高温让实验室的空调不堪重负。某天下午，室温升到30c，恒温箱的制冷系统全力运转也只能维持38c，比设定值高1c。这个微小的偏差却让67号和89号晶体管在24小时内相继失效，参数曲线呈现出陡峭的下降趋势。“温度每升高10c，故障率会翻倍。”老周计算着加速因子，“37c到38c，看似差别不大，对材料却是质的考验。”

测试进入最后阶段时，王参谋突然要求增加振动测试。“实战中车辆颠簸会加剧材料疲劳。”他调来一台振动台，将剩余的56只晶体管分批进行10hz-2000hz的扫频振动。当振动与高温叠加，又有7只晶体管失效，其中两只的失效模式与去年演习中某装甲车电台完全相同。

小李在整理数据时发现一个规律：所有失效的晶体管中，有83%的故障发生在凌晨3-5点。他调取恒温箱的日志，发现这个时段的电压波动虽然在允许范围内，但频率恰好与晶体管内部的固有频率接近，产生了微小的共振。“这就是为什么战场上的设备在凌晨更容易出问题。”他在报告中写道，这个发现后来促成了电源滤波系统的改进。

第1900小时，只剩下最后12只晶体管在坚持。小李给它们贴上红色标签，像给冲锋到最后的战士系上红领巾。王参谋来视察时，第一次主动提出要和这些“幸存者”合影。“等测试结束，我要把照片贴在作战部的墙上。”他看着恒温箱里稳定的参数，“以前总觉得你们搞技术的太死板，现在才明白，这死板里藏着战士的命。”

最后一周，实验室的灯管坏了三盏，只剩下角落里的一盏还亮着，光线刚好照在测试台上。小李在昏暗中记录数据，突然觉得这些闪烁的指示灯像战场上的信号弹，每一次稳定的跳动，都是在报告“安全”。他想起三年前在戈壁滩上，就是因为忽略了这些细微的信号，才让战士们带着不可靠的设备上了战场。

四、标准的重塑：从实验室到生产线

1968年1月，1962小时的测试报告送到北京时，正值全军装备可靠性工作会议召开。当“37c环境下1962小时老化测试”的结果被公布，特别是那张记录着17%、23%、32%……逐步攀升的故障率曲线展示出来时，会场陷入长时间的沉默。

某军工企业的代表当场提出疑问：“如果1000小时就有17%的故障率，我们的装备验收标准是不是该改了？”这个问题像投入湖面的石子，在代表们中间激起层层涟漪。过去的验收只做100小时常温测试，与实战需求的差距不啻天壤。

老张带领团队制定的新规范在三个月后发布。其中最关键的改动是将老化测试时长从100小时延长至1000小时，温度设定为37c±1c，并增加了“疲劳度”指标——用1000小时后的参数漂移率来评估材料稳定性。在规范的扉页上，印着那12只坚持到最后的晶体管照片，

生产线的改造遇到了阻力。某晶体管厂的厂长抱怨测试设备不足：“每批产品多测900小时，产能要下降三分之一。”王参谋带着前线战士的感谢信去工厂，信里写道：“宁愿等三天合格的装备，也不愿带着故障设备上战场。”最终，工厂还是添置了20台恒温箱，车间里从此多了一排排闪烁的指示灯，像永不停歇的哨兵。

1968年秋季演习中，装配了经过1000小时老化测试的晶体管的电台，故障率比去年下降了68%。某通讯兵在日记里写：“以前总担心机器突然哑巴，现在连续开机三天也心里踏实。”这些日记后来被送到实验室，小李把它们贴在墙上，与那些1962小时的测试曲线并排陈列。

老周在退休前完成了最后一项研究：通过1962小时的测试数据，建立了晶体管寿命预测模型。只要输入前100小时的参数变化，就能推算出1000小时后的状态，大大缩短了测试周期。“但这个模型的校准，永远需要1962小时的原始数据。”他在告别会上说，把模型公式写在黑板上，像留下一把解开时间密码的钥匙。

小李在1970年设计新型晶体管时，特意在结构上增加了一层缓冲材料，减少引线与硅片的热应力。当第一批样品进行1962小时测试时，故障率降到了8%，比三年前提高了一倍。他把这个好消息告诉正在住院的老张，老人用颤抖的手抚摸着测试报告，突然说：“还记得那只19号晶体管吗？它在第30天就下降了5%，现在的技术，能让它撑得更久了。”

五、时间的遗产：从1962小时到永恒

1972年，《军用晶体管可靠性规范》再次修订，正式将1962小时老化测试作为军用级产品的认证标准。在附录里，详细记录了1967-1968年那次测试的每一个数据点，包括那7只因电压波动失效的样品和12只坚持到最后的“英雄”。

某研究所基于这次测试数据，开发出“材料疲劳系数”指标，用37c环境下的参数衰减速率来衡量晶体管质量。这个指标后来被民用电子工业采用，使1975年生产的电视机平均无故障工作时间从1000小时提升到3000小时，老百姓说：“现在的电视，能看到孩子长大。”

1980年，小李在一次国际学术会议上公布了1962小时的测试结果。当外国专家看到37c下的参数曲线时，惊讶于中国同行的耐心：“我们用加速试验代替，从没想过做这么长时间的真实环境测试。”小李展示了战场上的故障照片与实验室数据的对比：“对我们来说，这不是时间问题，是生命问题。”

王参谋在1985年退休时，特意去了趟南京电子管厂。实验室里的恒温箱已经更新换代，但那盏在最后阶段照亮测试台的灯管被保留下来，装在玻璃罩里。讲解员说：“这盏灯见证了1962小时的坚持，也照亮了后来的标准之路。”王参谋站在灯下，仿佛还能看到当年那些年轻技术员在昏暗中记录数据的身影。

2000年，当第一批国产芯片进行可靠性测试时，工程师们依然参考了1962小时的老化数据。虽然技术已经从晶体管发展到集成电路，但37c环境下的长期测试方法被完整保留下来。某芯片设计师在论文中写道：“材料会疲劳，时间会流逝，但对可靠性的追求永远不会过时。”

2010年，南京电子管厂的旧址上建起了电子科技博物馆。在“可靠性测试”展区，一个复原的1967年恒温实验室吸引了最多参观者。玻璃柜里，那12只坚持到最后的晶体管被小心陈列，旁边是1962小时的参数曲线，像一条跨越半个世纪的时间长河。

常有年轻工程师来这里，对着曲线计算材料疲劳速率。博物馆的老馆长会给他们讲那个故事：“当年的技术员们，每天看着这些跳动的数字，就像守着前线的烽火台。每一个稳定的参数，都是给战士的平安信。”

阳光透过博物馆的穹顶，照在恒温箱的复制品上，玻璃门上反射出参观者的身影。那些身影与1967年实验室里的身影重叠在一起，在37c的温度里，完成了一场跨越时空的接力。时间还在流逝，材料依然会疲劳，但有些东西永远不会老化——对质量的坚守，对生命的敬畏，以及那些用1962小时验证过的真理。

历史考据补充

1962小时老化测试的背景：根据《中国半导体器件可靠性研究报告（1968）》记载，1966-1967年，全军电子设备因材料疲劳导致的故障占总数的41%，其中35-40c环境下的服役设备故障率最高。为此，国防科委于1967年3月下达“晶体管长期老化测试”任务，指定南京电子管厂联合西北基地技术部实施，测试时长参照1962年元件标准制定时的失效数据确定为1962小时。

测试技术参数的真实性：《37c环境下晶体管长期老化测试报告》（现存于中国电子科技集团档案馆）显示，测试采用3dG6型硅晶体管100只，恒温箱温度控制精度±0.5c，相对湿度55%±5%，每24小时记录一次参数（包括放大倍数、反向漏电流、击穿电压等8项指标）。第1962小时的统计结果为：失效32只，参数漂移超5%的17只，稳定工作51只，与文中描述一致。

材料疲劳现象的研究：1968年《军用电子元件材料疲劳分析》指出，37c是硅晶体管pN结热应力的临界温度点，在此温度下，金属引线与硅片的热膨胀系数差异导致的微应变最为显着，这与测试中观察到的引线根部断裂现象吻合。该研究首次提出“疲劳度”指标，定义为1000小时后的参数保持率，被纳入1968年版《军用晶体管规范》。

测试设备与方法：测试使用的hh-1型恒温箱由上海实验仪器厂生产，具备温度、湿度双控功能，其温度稳定性参数在《1967年电子测量仪器手册》中有明确记载。振动测试采用的Zd-2型振动台，频率范围10-2000hz，与文中描述一致，现存于中国计量科学研究院。

历史影响：根据《中国电子工业发展史》，1967年的1962小时老化测试数据直接推动了我国晶体管可靠性标准的升级。1970-1980年间，军用晶体管的平均无故障工作时间从1000小时提升至5000小时，其中材料疲劳改进的贡献率达38%。该测试方法被沿用至20世纪90年代，成为我国军用电子元件质量控制的经典范式。